更新日期：2021年7月11日
姓 名
陈荣盛
性 别
男
出生年月
1983年1月
籍贯
民 族
汉族
政治面貌
中国共产党党员
最后学历
博士研究生
最后学位
工学博士
技术职称
教授
导师类别
博导
行政职务
副主任
Email
chenrs@scut.edu.cn
工作单位
微电子学院
邮政编码
通讯地址
单位电话
个人简介
电气和电子工程师协会IEEE 高级会员广东省“珠江人才计划”引进高层次人才华南理工大学“兴华学者人才计划”青年学者广东省智能传感器与专用集成电路工程技术研究中心副主任研究方向：主要从事柔性电子器件及其集成电路、新型显示技术(薄膜晶体管TFT, AMOLED)等方向的研究主要业绩: 近年发表学术论文60多篇，其中SCI期刊论文50多篇；编写英文专著1章；多次在国际会议上作特邀报告，申请/授权美国发明专利3项、国内发明专利10多项；目前担任IEEE TED, IEEE EDL, APL，RSC Advances等多个国际期刊审稿人。所指导研究生在国际会议上曾获最佳口头报告奖、杰出论文奖等奖项。研究资助: 近五年主持国家、省部级科研项目7项，部分成果已进入企业中试阶段。
工作经历
2020至今 华南理工大学 教授2016-2020 华南理工大学 副教授2013-2016 香港科技大学 先进显示与光电子技术国家重点实验室 博士后
教育经历
2005 华南理工大学 电子科学与技术 学士2008 华南理工大学 微电子学与固体电子学 硕士2013 香港科技大学 电子及计算机工程 博士
研究领域
主要从事柔性电子器件及其集成电路、新型显示技术(薄膜晶体管TFT, AMOLED)等方向的研究
发表论文
代表性SCI论文1. “Low frequency noise in the hybrid-phase microstructural ITO-stabilized ZnO thin film transistors”, Yuan Liu, Sunbin Deng, Rongsheng Chen*, Bin Li, Yun-Fei En, Yi-Qiang Chen, IEEE Electron Device Letters, 39, pp.200-203, (2018). 2. “Analysis of indium-zinc-oxide thin-film transistors under electrostatic discharge stress”, Yuan Liu, Rongsheng Chen*, Bin Li, Yun-Fei En, Yi-Qiang Chen, IEEE Transaction on Electron Devices, 65, pp.356-360, (2018).3. “Analysis and Simulation of Low-Frequency Noise in Indium-Zinc-Oxide Thin-Film Transistors”，Yuan Liu; Hongyu He; Rongsheng Chen*; Yun-Fei En; Bin Li; Yi-Qiang Chen，IEEE Journal of the Electron Devices Society, 6, pp. 271-279, (2018). 4. “Threshold Voltage Adjustment in Hybrid-Microstructural ITO-Stabilized ZnO TFTs via Gate Electrode Engineering”, Sunbin Deng, Rongsheng Chen*, Guijun Li, Zhihe Xia, Meng Zhang, Wei Zhou, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok, IEEE Electron Device Letters, 38, 975-978 (2018).5. “Passivation of Poly-Si Thin Film Employing Si Self-Implantation and Its Application to TFTs”, Rongsheng Chen; Wei Zhou; Sunbin Deng; Meng Zhang; Man Wong; Hoi Sing Kwok, IEEE Journal of the Electron Devices Society, 6, pp 240-244, 2018. 6. “Hybrid-phase microstructural ITO-stabilized ZnO TFTs with self-aligned coplanar architecture”, Sunbin Deng, Rongsheng Chen*, Guijun Li, Zhihe Xia, Meng Zhang, Wei Zhou, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok, IEEE Electron Device Letters, 38, 1676-1679 (2017). 7. “Investigation of High-Performance ITO-Stabilized ZnO TFTs with Hybrid-Phase Microstructural Channels”, Sunbin Deng, Rongsheng Chen*, Guijun Li, Zhihe Xia, Meng Zhang, Wei Zhou, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok, IEEE Transaction on Electron Devices, 64, 3174-3182 (2017). 8. “High-performance staggered top-gate thin-film transistors with hybrid-phase microstructural ITO-stabilized ZnO channels”，Sunbin Deng, Rongsheng Chen*, Guijun Li, Zhihe Xia, Meng Zhang, Wei Zhou, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok，Applied Physics Letters, 109, 182105 (2016).9. “Fabrication of high-performance bridged-grain polycrystalline silicon TFTs by laser interference lithography”, Sunbin Deng, Rongsheng Chen*, Wei Zhou, Jacob Yeuk Lung Ho, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok, IEEE Transaction on Electron Devices, 63, 1085-1090 (2016). 10. “Dynamic-gate-stress-induced degradation in bridged-grain polycrystalline silicon thin-film transistors”, Meng Zhang, Zhihe Xia, Wei Zhou, Rongsheng Chen*, Man Wong, and Hoi-Sing Kwok, IEEE Transaction on Electron Devices, 63, 3964-3970 (2016).
出版专著和教材
1. 英文学术专著“Active-Matrix Organic Light-Emitting Display Technologies”中的Chapter 5: Thin Film Transistor Technology, Bentham Science Publisher, ISBN:978-1-68108-121-2 (2015). |
