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个人概况 科学研究 教学信息 社会职务 荣誉及奖励 招生信息,王海滨
职称： 教授 博士生导师
部门： 信息学部、信息科学与工程学院
学科： 信息与通信工程
教学部门： 信息学部、信息科学与工程学院
电话：
邮件： 20021646@hhu.edu.cn
办公地址：
通讯地址：
邮编：
6733
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个人简介
王海滨博士现任电子科学系主任，龙城英才人才计划获得者。研究兴趣包括但不限于人工智能理论与应用、集成电路设计、嵌入式系统方面的研究，任国际会议IEEE IRPS分会主席，并担任NSREC和ESREF的技术委员会成员，在IEEE Transactions on Nuclear Science、Microelectronics Reliability等国内外高水平期刊和会议上发表SCI论文近30篇，获得近20件发明专利和20余件软件著作权授权。曾两次获得江苏省科学技术进步三等奖和第三届电子元器件辐射效应国际会议（ICREED2019）获得最佳口头报告奖。研究团队与国外高校，美国范德堡大学、加拿大阿尔伯塔大学和萨省大学、日本大阪大学和韩国汉阳大学等，具有密切的合作，受邀进行口头报告，并互派学生交流访问。与国内高校和研究所等开展了项目合作，如华为公司、江苏宏微股份有限公司、航天五院、八院、九院、中国电科58所、中科院微电子所等。指导多名研究生（戴茜茜、王杨圣、Younis、Zaid等）获得国家奖学金和政府留学奖学金，以优异的学术成绩毕业，并在业内top高科技公司（AMD、联发科等）就业。指导本科生参与学生竞赛，2020年获得江苏省电子设计大赛一等奖和华为杯物联网比赛国家二等奖。详细成果见主页：https://www.scholarmate.com/P/7N7jQj
个人资料
姓名： 王海滨
性别： 男
学位： 博士
出生年月： 1980-10
学历： 博士研究生
毕业院校： 加拿大萨省大学
教育经历
1998.09.01-2002.07.01,通信工程
2003.09.01-2006.06.01,通信与信息系统
2011.09.01-2015.10.01,电子工程
工作经历
2002.08.01-,河海大学常州校区,教学
2002.8-2003.07,水利部太湖流域管理局
2009.2-2010.1,加拿大Lakehead University
研究领域
人工智能理论与应用、集成电路设计、嵌入式系统
科研项目
1、单粒子效应对基于ARM处理器的神经网络的影响研究,2020.12-2022.06,2020-07,王海滨,国防科工局,物联网工程学院
2、航天器在轨SEU错误甄别以及定位技术,2018.06-,2018-07,王海滨,国防科工局,物联网工程学院
3、航天器辐射效应传感器芯片的研发,2019.04.15-,王海滨,江苏久创电气科技有限公司,物联网工程学院
4、深度神经网络的可靠性仿真与评估技术,2019.05.08-,王海滨,中国电子科技集团公司第五十八研究所,物联网工程学院
5、纳米尺度下集成电路版图对单粒子辐射效应的影响机理研究,2016.01.01-2018.12.31,王海滨,国家自然科学基金委员会,物联网工程学院
6、深亚微米工艺下动态逻辑电路单粒子效应的建模和防辐射技术研究,王海滨,教育部中央高校业务费项目,物联网工程学院
7、面向空间应用的抗辐照纳米集成芯片关键技术研究,2017.01.01-2018.12.31,王海滨,教育部中央高校业务费项目,物联网工程学院
8、抗辐照医用RFID智能标签关键技术的研究,2018.01.01-2019.12.31,王海滨,教育部中央高校业务费项目,物联网工程学院
9、非易失逻辑电路的抗辐射加固设计,2017.07.10-,王海滨,中国科学院微电子研究所,物联网工程学院
10、光纤网络连接端口赋能管理系统研发及产业化,2016.04.01-2019.03.31,王海滨,常州太平通讯科技有限公司,物联网工程学院
11、基于虹膜识别的BIM应用服务系统关键技术研发,2017.12.15-,王海滨,常州坤智信息科技有限公司,物联网工程学院
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论文
1、An SEU-Tolerant DICE Latch Design With Feedback Transistors,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-APR-15
2、An Area Efficient SEU-Tolerant Latch Design,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-DEC-14
3、A Novel Built-in Current Sensor for N-WELL SET Detection,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-AUG-15
4、Single Event Resilient Dynamic Logic Designs,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-DEC-14
5、Single-Event Transient Sensitivity Evaluation of Clock Networks at 28-nm CMOS Technology,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-FEB-16
6、Layout-based Single Event Mitigation Techniques for Dynamic Logic Circuits,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-FEB-16
7、An Area Efficient Stacked Latch Design Tolerant to SEU in 28 nm FDSOI Technology,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-DEC-16
8、SEU reduction effectiveness of common centroid layout in differential latch at 130-nm CMOS technology,MICROELECTRONICS RELIABILITY,01-JAN-17
9、Evaluation of SEU Performance of 28-nm FDSOI Flip-Flop Designs,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-JAN-17
10、An Area Efficient Stacked Latch Design Tolerant to SEU in 28 nm FDSOI Technology,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-JAN-16
11、A single event upset tolerant latch design,MICROELECTRONICS RELIABILITY,01-JAN-18
12、Resist Filling Study for UV Nanoimprint Lithography Using Stamps with Various Micro/Nano Ratios,MICROMACHINES,01-JAN-18
13、MEMS based energy harvesting for the Internet of Things: a survey,MICROSYSTEM TECHNOLOGIES-MICRO-AND NANOSYSTEMS-INFORMATION STORAGE AND PROCESSING SYSTEMS,01-JAN-18
14、Effect of stamp design on residual layer thickness and contact pressure in UV nanoimprint lithography,MICRO & NANO LETTERS,01-JAN-18
15、A single event upset hardened flip-flop design utilizing layout technique,Microelectronics Reliability,01-JAN-19
16、A Single Event Upset Resilient Latch Design with Single Node Upset Immunity,Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA),01-JAN-19
17、Investigation on the neighbouring effect of filling micro- and nanoscale cavities in ultraviolet nanoimprint lithography,MICRO & NANO LETTERS,01-JAN-19
18、A Layout-Based Rad-Hard DICE Flip-Flop Design,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-JAN-19
19、A Single Event Upset Resilient Latch Design with Single Node Upset Immunity,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,01-JAN-19
20、A Low-Overhead FFT Design With Higher SEU Resilience Implemented in FPGA,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,01-JAN-20
21、Soft Error Resilience of Deep Residual Networks for Object Recognition,IEEE ACCESS,01-JAN-20
22、A single event upset hardened flip-flop design utilizing layout technique,MICROELECTRONICS RELIABILITY,01-JAN-19
23、A Single Event Upset Resilient Latch Design with Single Node Upset Immunity,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS,2019-01-01
24、A Low-Overhead FFT Design With Higher SEU Resilience Implemented in FPGA,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,2020-01-01
25、Soft Error Resilience of Deep Residual Networks for Object Recognition,IEEE ACCESS,01-JAN-20
26、Impact of Single-Event Upsets on Convolutional Neural Networks in Xilinx Zynq FPGAs,IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,2021-04-01
27、Impact of TMR design layouts on single event tolerance in SRAM-based FPGAs,MICROELECTRONICS RELIABILITY,2021-05-01
28、A reliable and energy efficient dual prediction data reduction approach for WSNs based on Kalman filter,IET COMMUNICATIONS,2021-11-01
29、Soft errors in DNN accelerators: A comprehensive review,MICROELECTRONICS RELIABILITY,01-DEC-20
30、一种低开销的近似乘法器设计,小型微型计算机系统,2021-12-01
31、Reliable spatial and temporal data redundancy reduction approach for WSN,COMPUTER NETWORKS,2021-02-01
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科技成果
开授课程
1、嵌入式系统,本科生,19,32
2、电子技术基础A,本科生,42,64
3、集成电路课程设计,本科生,66,32
4、数字集成电路分析与设计,本科生,70,48
教学成果
2020年河海大学讲课竞赛二等奖2020年江苏省电子设计大赛一等奖指导老师2020年江苏省华为杯物联网比赛国家级二等奖指导老师
教学资源
社会职务
中国电源学会元器件分会专委会成员江苏省集成电路学会新兴计算芯片专委会成员常州欧美同学会理事IEEE IRPS会议分会主席IEEE NSREC/ESREF国际会议技术委员会成员国家自然科学基金、江苏省科技项目、常州市科技项目评审专家多个SCI期刊审稿专家
荣誉及奖励
1、高性能智能前照灯系统关键技术及产业化,2019-12,2019年度江苏省科学技术奖,三等奖
2、ICREED会议最佳论文,2019-05
招生信息
招收博士研究生：信息科学与工程学院的信息与通信工程学科、人工智能学院的人工智能学科；招收硕士研究生：信息科学与工程学院的信息与通信工程学科、电子科学与技术学科、电子信息专硕；优秀学生代表：戴茜茜：国家奖学金获得者，现在AMD工作，发表SCI论文3篇，授权发明专利3件王杨圣：国家奖学金获得者，发表SCI论文3篇，授权发明专利3件褚嘉敏：特等奖学金获得者，发表SCI论文1篇，授权发明专利1件Younis：江苏省政府留学奖学金获得者，发表SCI论文3篇Zaid：发表SCI论文3篇，会议4篇 |
